Laterally inhomogeneous barrier analysis of identically prepared Cd/CdS/n-Si/Au-Sb structures by SILAR method

GÜZELDİR B., SAĞLAM M., Ateş A.

Microelectronics Reliability, cilt.51, sa.12, ss.2179-2184, 2011 (SCI-Expanded, Scopus)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 51 Sayı: 12
• Basım Tarihi: 2011
• Doi Numarası: 10.1016/j.microrel.2011.04.020
• Dergi Adı: Microelectronics Reliability
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
• Sayfa Sayıları: ss.2179-2184
• Ankara Yıldırım Beyazıt Üniversitesi Adresli: Hayır