Negative Differential Resistance Observation and a New Fitting Model for Electron Drift Velocity in GaN-Based Heterostructures

Atmaca G., Narin P., Kutlu E., Malin T. V., Mansurov V. G., Zhuravlev K. S., ...Daha Fazla

IEEE Transactions on Electron Devices, cilt.65, sa.3, ss.950-956, 2018 (SCI-Expanded, Scopus)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 65 Sayı: 3
• Basım Tarihi: 2018
• Doi Numarası: 10.1109/ted.2018.2796501
• Dergi Adı: IEEE Transactions on Electron Devices
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
• Sayfa Sayıları: ss.950-956
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
• Ankara Yıldırım Beyazıt Üniversitesi Adresli: Hayır