Calculation from the current-voltage and capacitance-voltage measurements of characteristics parameters of Cd/CdS/n-Si/Au-Sb structure with CdS interface layer grown on n-Si substrate by SILAR method

SAĞLAM M., Ateş A., GÜZELDİR B., Yildirim M., Astam A.

Microelectronic Engineering, cilt.85, sa.8, ss.1831-1835, 2008 (SCI-Expanded, Scopus)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 85 Sayı: 8
• Basım Tarihi: 2008
• Doi Numarası: 10.1016/j.mee.2008.05.016
• Dergi Adı: Microelectronic Engineering
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
• Sayfa Sayıları: ss.1831-1835
• Ankara Yıldırım Beyazıt Üniversitesi Adresli: Hayır