Calculation from the current-voltage and capacitance-voltage measurements of characteristics parameters of Cd/CdS/n-Si/Au-Sb structure with CdS interface layer grown on n-Si substrate by SILAR method


SAĞLAM M., Ateş A. , GÜZELDİR B., Yildirim M., Astam A.

Microelectronic Engineering, cilt.85, ss.1831-1835, 2008 (SCI Expanded İndekslerine Giren Dergi) identifier

  • Cilt numarası: 85 Konu: 8
  • Basım Tarihi: 2008
  • Doi Numarası: 10.1016/j.mee.2008.05.016
  • Dergi Adı: Microelectronic Engineering
  • Sayfa Sayıları: ss.1831-1835